半导体测试指南：标准、方法与应用详解_半导体检测_可靠性测试 ATE

半导体测试是芯片从设计验证到量产出货的关键质量关口，涵盖晶圆级、封装后及可靠性验证。本文系统介绍测试概念、主要种类、常用方法、主流国内外标准、标准化流程及应用场景，为半导体企业提供专业决策依据，确保产品参数达标、可靠性过关并顺利通过汽车级、消费电子及出口认证，提升产业链竞争力。

2026-02-28 解决方案