电子显微镜

电子显微形貌观察与测量是一种利用电子显微镜技术对材料微观结构进行高分辨率成像和精确测量的检测方法。该技术广泛应用于材料科学、半导体、生物医学等领域，帮助揭示样品表面或内部的形貌特征，如晶体结构、缺陷分布和纳米级尺寸。通过扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）等设备，实现从宏观到原子级的观察，提升产品质量控制和研发效率。