电子元器件失效模式与检测指南
全面解析电子元器件常见失效模式(开路、短路、参数漂移、功能失效、烧毁),并针对电阻、电容、电位器等元件给出机理、检测方法、案例与预防建议,适用于研发、质检与维修工程师参考。
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