芯片测试

本文深度解析半导体封测中 ATE 测试与 SLT 测试的核心原理与关键应用场景。详细对比两者在检测覆盖率、测试成本及早期失效筛选能力上的显著差异，提供专业选型策略。涵盖 CP/FT 测试流程及系统级验证方案，助力企业优化芯片质量管控体系，有效提升产品可靠性与最终良率表现。