芯片可靠性测试详解：项目、标准、流程与报价全指南_AEC-Q100 HTOL HAST TC THB

芯片可靠性测试是评估集成电路长期稳定性和环境耐受力的核心手段。本文详解芯片可靠性测试主流项目（HTOL、HAST、TC、THB、ESD等）、标准要求、测试流程、周期、费用参考及注意事项，帮助芯片设计/封测企业掌握可靠性验证要点与合规路径。

2026-02-27 解决方案