电子背散射衍射仪（EBSD）
电子背散射衍射 (EBSD) 是基于扫描电镜的强大技术，实现晶体取向和物相的微区分析。本文介绍EBSD原理、核心优势、关键分析模式与应用，阐明其在微观组织表征、织构分析及应变测量中的重要作用，助力深入理解材料结构-性能关系。
聚焦离子束（FIB）
聚焦离子束 (FIB) 技术以其纳米级精度进行材料刻蚀、沉积与成像，是先进样品制备（如TEM薄片）和微纳加工的核心工具。本文介绍FIB原理、核心优势、关键应用模式与技术特点（含缩写），揭示其在失效分析、材料表征和半导体工艺中的重要作用。
透射电镜（TEM）
透射电镜 (TEM) 是实现纳米级高分辨率成像、揭示材料内部微观结构的核心工具。本文介绍TEM原理、核心优势、关键分析模式（含缩写）及其在材料科学、生命科学等领域的广泛应用，助力深入理解物质结构与性能关系。
球差电镜（AC-TEM）
专业的球差电镜 (AC-TEM) 技术突破传统电镜分辨率极限，实现原子尺度成像。本文介绍AC-TEM原理、核心优势、关键分析模式（含缩写）及其在先进材料表征和纳米科学研究中的应用，助力揭示微观结构奥秘。