PCB失效分析的必要性
PCB作为电子元器件的基石,其失效可能导致系统崩溃。2025年电子市场预计增长至3万亿美元。分析断裂和腐蚀原因,使用FTIR和XPS技术进行根因诊断,是提升可靠性的关键。本文提供步骤指南和解决方案。
PCB常见失效模式
PCB失效多源于制造或环境因素。以下为主要问题:
断裂失效
- 热应力断裂:温度变化导致层间分离。
- 机械断裂:振动或冲击引起焊点破损。
腐蚀失效
- 电化学腐蚀:湿度与污染物引发氧化。
- 化学腐蚀:清洗剂残留加速降解。
电子行业报告显示,腐蚀占失效40%。
失效模式 | 原因 | 影响 |
断裂 | 热/机械应力 | 电路中断 |
腐蚀 | 湿度/污染物 | 性能衰退 |
FTIR与XPS诊断技术
FTIR(傅里叶变换红外光谱)
- 原理:分析分子振动,识别有机污染物。
- 步骤:样品扫描、谱图匹配、根因确认。
适用于腐蚀诊断,精度高。
XPS(X射线光电子能谱)
- 原理:表面元素分析,检测氧化层。
- 步骤:真空扫描、元素定量、深度剖析。
结合使用,提升诊断准确率25%。
根因诊断步骤指南
- 样品采集:隔离失效区域。
- 视觉检查:显微镜观察断口。
- 技术分析:FTIR/XPS数据采集。
- 解决方案:优化设计或材料。
实际案例与解决方案
案例1:PCB热断裂
某手机PCB热应力断裂。FTIR确认聚合物降解,解决方案:增强层间粘合,失效率降10%。
案例2:腐蚀诊断
服务器PCB腐蚀。XPS检测氯离子,解决方案:改进清洗工艺,提升耐湿性。
2025年趋势展望
2025年,PCB失效分析集成AI谱图解读,市场需求年增9%。柔性PCB测试成热点。
我们的专业服务
深圳晟安检测(SeanTest)提供PCB失效分析服务,使用FTIR和XPS技术,确保电子元器件可靠。专家团队交付高效解决方案。