PCB失效分析:常见问题及解决方案
PCB失效分析指南:断裂腐蚀原因及FTIR/XPS诊断步骤,提升电子元器件质量。PCB失效分析, 电子元器件测试, FTIR光谱。
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印制电路板(PCB)失效分析是保证电子产品可靠性的关键环节。本文系统介绍了PCB典型失效模式,如BGA焊点裂纹、爆板与坑裂、腐蚀与金属迁移,并详细解析了X射线、三维CT、C-SAM、红外热成像等检测方法。同时深入探讨了设计缺陷、材料问题、工艺缺陷等失效成因,并提出针对性的解决方案。适用于PCB制造商、电子工程师及可靠性测试人员参考。
本文系统解析PCB/PCBA制造缺陷引起的失效问题,包括润湿不良、爆板、分层起泡、焊接失效、过孔堵塞与铜箔脱落等常见故障,帮助工程师定位问题根因并提出有效改善对策,提升产品可靠性和制造质量。
提供专业的PCB/PCBA检测、失效分析及可靠性评估解决方案。我们凭借先进的化学材料分析能力和失效分析专家团队,助您快速定位并解决PCB/PCBA的润湿不良、分层、CAF、焊点开裂等质量难题,保障产品可靠性,提升市场竞争力。
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